2018年6月25日下午2时，分析测试中心特邀中国科学院大连化学物理研究所盛世善研究员在重庆大学虎溪校区理科楼LA104，为校内外师生作“X射线光电子能谱（XPS）技术及应用”的专业技术讲座。讲座由分析测试中心主任周小元主持。

 

 

在报告中，盛世善研究员从最简单的“表面”入手介绍，包括其定义、特性、表面分析的定义、应用表面分析技术的原则，环环相扣、循序渐进，直至深入讲座的精髓——X射线光电子能谱（XPS）。其后，盛世善研究员简要介绍了XPS定义、原理、过程、采样深度，着重详尽介绍了电子结合能、初态效应与化学位移，终态效应及伴峰，主光电子谱线外其他能级谱线的应用，XPS定量（半定量）分析，XPS数据的后期处理，XPS分析中常遇到的一些问题。在讲解中，盛世善研究员在每个小节都采用样品谱线图举例示意，图文并茂，从实例出发让在座的学生理解报告内涵。

 

 

来自校内外各个学院的50多名师生，认真听取、学习了报告，在提问互动环节，学生就报告内容及相关问题踊跃向盛世善研究员提问。盛世善研究员就这些问题深入浅出地进行解答，现场气氛热烈。在结束技术报告后，从下午4时到6时，盛世善研究员在中心XPS实验室现场进行上机操作、演示，理论联系实际，为学生讲解报告精髓和测试关注要点。